Sfoglia per Serie  CONFERENCE RECORD, INDUSTRY APPLICATIONS SOCIETY, IEEE-IAS ANNUAL MEETING

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Robustness Evaluation of MOSFETs by Equivalent Cell Behavioral Model of the Gate Parasitic Resistance / Chimento, F.; Musumeci, S.; Raciti, A.; Sannino, S.; Magri, A.; Melito, M.; Zara, F.. - ELETTRONICO. - (2007), pp. 350-357. (Intervento presentato al convegno IEEE Industry Applications Society Annual Meeting (IAS) tenutosi a New Orleans, LA, USA nel 23-27 September 2007) [10.1109/07IAS.2007.48]. 1-gen-2007 S. Musumeci + Robustness_Evaluation_of_MOSFETs_by_Equivalent_Cell_Behavioral_Model_of_the_Gate_Parasitic_Resistance.pdf
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